9–14 вересня 2012 р. у м. Пусан, Республіка Корея відбувся XX Світовий конгрес ІМЕКО “Метрологія для зеленого зростання”, організаторами якого були Корейський дослідницький інститут стандартів і науки (KRISS) і Корейське товариство прецизійної техніки (KSPE). До складу міжнародного програмного комітету Конгресу входили 55-ть представників з 31-ї країни (в т. ч. Німеччини – 6, Японії – 5, Італії – 4, Республіки Корея та Португалії – по 3). Генеральним головою Конгресу був д-р С.-Й. Ву (KRISS). Головував на пленарних засіданнях Конгресу Президент ІМЕКО, Президент KRISS д-р Д.-І. Канг.
У Конгресі взяв участь представник ДП “Укрметртестстандарт” – директор інституту О. М. Величко, який представив дві доповіді. Загалом у роботі Конгресу взяли участь 574 представники з 42-х країн світу (в. т. ч. Республіка Корея – 225; Німеччина і Японія – по 61; Китай – 34; Польща – 21; Італія – 17; Чеська Республіка – 13; Російська Федерація та Австрія – по 11). Делегати представляли країни з 5-ти континентів: Європа – 47 %; Азія – 43 %; Америка – 9 %; Африка і Океанія – по 0,5 %. У Конгресі взяли участь представники більше ніж 20-ти національних метрологічних інститутів (НМІ): Німеччини (РТВ); Республіки Корея (KRISS); Великої Британії (NPL); США (NIST); Японії (NMIJ); Російської Федерації (ВНИИМ, ВНИИФТРИ, ВНИОФИ, УНИИМ); Італії (INRIM); Бразилії (INMETRO) тощо.
Загалом було представлено 509 доповідей (в т. ч. 315 – оральних). Загалом відбулось 2-ві пленарних, 60 оральних і 2-і плакатних сесії, засідання всіх 24-х технічних комітетів ІМЕКО, представлено 5-ть ключових лекцій, 3-и спеціальні та спільні сесії; 4-ри круглих столи і 2-а семінари. Найбільша кількість доповідей представників країн: Республіки Корея – 69; Німеччини – 58; Японії – 40; Італії та Китаю – по 26; Бразилії – 25; Російської Федерації – 21).
Учасниками Конгресу були заслухані такі ключові лекції:
“Метрологія для 21-го століття: великі зміни” (проф. М. Кюне, директор Міжнародного бюро з мір і ваг, BIPM);
“Багатошкальна оцінка механічних властивостей засобів ідентифікації з вимірюваними приладами, що використовуються” (проф. Д.-І. Квонг, Сеульський національний університет, Республіка Корея);
“Міжнародна стандартизація вимірювань і характеристик для нанотехнологій” (д-р О. Акіра, Національний інститут передової прикладної науки і технологій, AIST, Японія);
“Нові виникаючі виклики в метрології для гнучкої сталої енергетики” (проф. К.-Д. Зоммер, Фізико-Технічний інститут Німеччини, РТВ);
“Сучасний стан метрології для парникових газів” (д-р Д.-С. Кім, Віце-Президент KRISS).
На Конгресі відбулися оральні та постерні сесії технічних комітетів:
ТК 1 “Навчання і тренінг для вимірювань і приладів” (загалом 9-ть доповідей, в т. ч. 5-ть оральних;зареєстровано учасників сесій – 17);
ТК 2 “Фотоніка” (13/11; 20);
ТК 3 “Вимірювання сили, маси і крутячого моменту” (77/39; 83);
ТК 4 “Вимірювання електричних величин” (58/28; 43);
ТК 5 “Вимірювання твердості” (16/9; 18);
ТК 7 “Наука про вимірювання” (25/15; 28);
ТК 8 “Простежуваність у метрології” (8/5; 5);
ТК 9 “Вимірювання витрат” (15/11; 11);
ТК 10 “Технічна діагностика” (12/10; 10);
ТК 11 “Метрологічна інфраструктура” (8/5; 6);
ТК 12 “Температура і теплові вимірювання” (24/16; 23);
ТК 13 “Вимірювання у біології та медицині” (21/14; 16);
ТК 14 “Вимірювання геометричних величин” (31/20; 24);
ТК 15 “Експериментальна механіка” (6/5; 6);
ТК 16 “Вимірювання тиску і вакууму” (26/16; 23);
ТК 17 “Вимірювання у робототехніці” (9/5; 11);
ТК 18 “Вимірювання людських функцій” (16/10; 9);
ТК 19 “Вимірювання довкілля” (16/10; 18);
ТК 20 “Вимірювальна техніка для будівельної промисловості” (16/12; 10);
ТК 21 “Математичні засоби для вимірювань” (29/21; 18);
ТК 22 “Вимірювання вібрації” (17/12; 19);
ТК 23 “Метрологія у харчовій промисловості” (11/6; 6);
ТК 24 “Хімічні вимірювання” (10/6; 7).
Також в рамках Конгресу відбулись 3-и спеціальні та спільні сесії з актуальних питань метрології:
“Нанометрологія”(загалом 7 доповідей, в т. ч. 6-ть оральних);
“Зелена” метрологія” (19/12, ТК 19);
“Розрахунки в координатній метрології” (спільно ТК 14 і ТК 21);
4-ри круглі столи:
“Електрична метрологія для нано- і мікротехнологій” (ТК 4);
“Різноманітна загальна основа для освіти про вимірювання” (ТК 1);
“Метрологія і простежуваність в біології, медицині та захисті довкілля” (спільно ТК 8, ТК 13, ТК 19);
“Метрологія і простежуваність для хімії” (спільно ТК 8, ТК 23, ТК 24);
2-а семінари:
“ADC/DAC метрологія” (4 оральних доповіді);
“Важливість похибок в метрології: обґрунтування шляхом теорії систем” (спільно ТК 1, ТК 7, ТК 21).
В рамках Конгресу діяла виставки сучасної високоточної вимірювальної техніки, на якій представили свої прилади всесвітньо відомі корпорації та компанії (“Fluke”, “MettlerToledo”, “Hafner”, “Sartorius” та інші).
Після заключної пленарної сесії Президентом ІМЕКО став проф. П. Дапонте (Італія). За результатами Конгресу видане електронне видання з матеріалами, які містить матеріали доповідей його учасників (ISBN 978-89-950000-295400).